阻抗曲線的測量相對比較簡單，能不能從阻抗曲線的形狀來判斷倒相箱的調試是否合理，是許多朋友關心的問題。
有許多書明確提出了一些判斷的方法，在重述這些方法之前，我們先來看看倒相箱阻抗曲線的典型形狀：
在上圖中，倒相箱的阻抗曲線形成了兩個明顯的峰，兩峰中夾著一個谷，這就是倒相箱阻抗曲線的典型形狀。其中，頻率較低的峰的頻率可記作fl，頻率較高的峰對應的頻率可記為fh，而谷的位置記為fb。fb就是倒相管與箱體共同組成的一個亥姆霍茲共鳴腔的諧振頻率，簡單地說，就是倒相箱的諧振頻率，fb的b就是box的簡寫。（附加一個問題，這個頻率與單元的參數有沒有關系？）
上文說到許多書，既有科普的也有專業的，提出了一些判斷方法，這些方法大意（表述不全面不到位的，請大家補充）是：
1、谷的高度，也就是歐姆數值，越接近于單元額定阻抗，說明音箱的氣密性越好。反之，谷的高度越高，也就是與額定阻抗的差距越大，說明音箱漏氣越嚴重。
2、調諧良好的雙峰形狀是等高的。低頻峰高，說明倒相管的口徑偏大；高頻峰高，說明倒相管的口徑偏小。
3、箱體體積大，雙峰之間的距離小；箱體體積小，雙峰之間的距離大。
很多人，包括許多工程師都把這些方法應用在倒相管的調整中。但是，嚴格地說，除了第3點，前兩點都不準確甚至是錯誤的，而第3點雖然沒錯，但對箱體的調整工作實際上沒有什么指導意義。
以下用大家熟悉的lspcad做一些模擬，對這些方法進行討論。
1、首先，谷的高度可以小于額定阻抗。把上面所說的”額定阻抗“換成”直流電阻“將合理得多，下圖是一個peerless 8ohm單元在一個假定損耗很小的箱體上的阻抗模擬結果（QB3調準，Ql和Qa均為100，吸音棉為0），可以看到，谷的高度僅有6.3ohm左右，接近單元的Re，比額定阻抗8ohm小得多:
其次，影響谷的高度的主要因素是倒相箱系統的損耗。倒相箱的損耗主要有泄露損耗（Ql）、吸收損耗（Qa）和倒相管損耗（Qp）。雖然泄露損耗是主要的損耗，但不能由“泄露"兩個字就以為是漏氣決定的，箱壁的強度也有很大的影響。并且由于倒相箱普遍填充有吸聲材料，后二者也可以是非常明顯的。比如在上面的模擬中，把Ql和Qa分別設為7和30，谷的低點升高到7.8ohm左右，仍然低于額定阻抗，而吸音材料的量設為30%時，就上升到8.4ohm左右:
2、關于雙峰的高度，這里以lspcad自帶的數據庫中的peerless六寸半單元831975為例，做一個倒相箱設計模擬，按常用的QB3響應設計，得到下圖的結果：
從圖中可以看出，即使按較理想的QB3響應進行模擬，雙峰仍然是不完全等高的。
在這個基礎上，將通過延長倒相管長度，將箱體調諧頻率降到與fs相等的41.3Hz，并少量填充吸音棉，可以使雙峰等高：
其實可以假設一種理想狀態，即箱系統沒有任何損耗，并且箱體調諧頻率fc=fs，雙峰確實也是等高的。但是這種情況是不可能存在的。
現在保持其他參數不變，再延長倒相管長度，使fc進一步降低，可以看到雙峰不等高了，低頻峰低于高頻峰：
反過來，縮短倒相管長度，使fc升高，低頻峰就高于高頻峰：
一般來說，fc≈fs時，雙峰接近等高；當fc＜fs時，高頻峰較高；當fc>fs時，低頻峰較高。這樣看來，雙峰等高的原則應該是正確的？我們再改變單元的參數看看情況又是會是怎么樣的。
現在僅改變這個單元的BL值，使Qes發生變化，Qts也會相應地改變，此時，箱體的fc/fs也要做出相應的調整。以下再按QB3響應設計：
這樣，雖然調諧是合理的，但雙峰不等高，低頻峰又高了。
如果一定調整到雙峰相等，反而得到調諧不良的結果：
反過來，如果單元具有較高的Q，設計制作良好的箱體常常（但不是一定）具有低于fs的fc，因此高頻峰可能高于低頻峰。
綜合以上結果可以看出：
A：在fc接近fs時，雙峰比較接近等高。fc明顯小于fs時，高頻峰較高；fc明顯大于fs時，低頻峰較高。雙峰是否等高，主要與fc/fs有關。
B：t/s參數不同的單元，需要不同的fc/fs，接近fs的fc并不總是理想的，這時良好的設計反而是得到不等高的阻抗雙峰。
C：由于多數情況下，理想的fc/fs≠1，因此合理的雙峰常常不等高，換句話說就是等高的雙峰常常意味著調諧不良。
此外，必須提到，不同功率水平下，阻抗曲線的形狀是不同的，峰谷的高度甚至峰谷的位置，都會隨著功率水平發生明顯的變化。以上的結果只有在功率很小時才成立，隨著功率增大，最明顯的變化就是低頻峰的高度降低，這時候，原來不等高的可能變成等高，而等高的也會變成不等高。而吸音棉的增減也會影響雙峰高度，等等。
總之，用雙峰的高度等阻抗曲線的形狀來判斷倒相箱體調諧情況，不但沒有指導意義，而且常常是錯誤的。至于倒相管長度與口徑是密切相關的，那些常識方面的錯誤，就不提了。
那在調整中，阻抗曲線有什么用呢？主要可以用于兩個方面的判斷。
A、判斷箱體的調諧情況是否符合設計預期。比如將初步完成的箱系統的阻抗曲線與模擬的進行比較，如果差異較大，可以據此尋找原因。具體過程可以參考D‘Appolito的《實用揚聲器測量》。這里要注意的是，阻抗測量結果受測量電平影響很大，T/S參數測量時的信號電平以及最后實測時的電平都會造成這個差異，應該區別對待。
B、發現箱系統的異常諧振，對異常諧振進行處理。箱體內的駐波模式、箱壁甚至盆架對聲波的反射、箱內隔板造成的類似二次倒相的異常諧振、以及箱壁的振動等都可能造成阻抗曲線上的異常諧振峰出現。如下圖所示，出現了四個峰，提示可能存在兩種不同原因的異常情況，增加吸音棉后消除了頻率最高的小峰，但頻率較低的諧振峰仍然沒有完全解決。可以進一步進行一些調整，確定并解決問題。當然，多數的異常情況不會這么明顯，需要認真測量與觀察。
增加吸音材料前
增加吸音材料后
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